机构

• 光电技术研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 会议论文 [1]

发表日期

• 2012 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2012    专题：光电技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Measurement of non-common path static aberrations in an interferometric camera by phase diversity 会议论文  OAI收割 Proceedings of SPIE: 6th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Optical Test and Measurement Technology and Equipment, 2012 作者:  Yan, Zhaojun;  Herbst, Thomas M.;  Yang, Pengqian;  Bizenberger, Peter;  Zhang, Xianyu 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2016/11/24