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  • 光电技术研究所 [2]
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Analysis of free carrier absorption measurement of electronic transport properties of silicon wafers 期刊论文  OAI收割
EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL-SPECIAL TOPICS, 2008, 卷号: 153, 期号: 1, 页码: 279-281 JAN
Zhang, X; Li, B; Gao, C
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Accuracy analysis for the determination of electronic transport properties of Si wafers using modulated free carrier absorption 期刊论文  OAI收割
Journal of Applied Physics, 2008, 卷号: 103, 期号: 104, 页码: 107305, 1-7
Xiren Zhang; Bincheng Li; Xianming Liu
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