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  • 微电子研究所 [2]
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一种SOI基的PN结建模方法 专利  OAI收割
专利号: CN201510580438.6, 申请日期: 2018-07-13, 公开日期: 2015-12-09
作者:  
卜建辉;  赵博华;  罗家俊;  韩郑生
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包含相位元件的垂直入射宽带偏振光谱仪和光学测量系统 专利  OAI收割
申请日期: 2011-10-11,
作者:  
严晓浪;  艾迪格.基尼欧;  赵江艳;  李国光;  刘涛
  |  收藏  |  浏览/下载:8/0  |  提交时间:2016/09/14