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机构
上海光学精密机械研究... [2]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
专利 [2]
发表日期
2007 [1]
2006 [1]
学科主题
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浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
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内容类型:专利
专题:上海光学精密机械研究所
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第一作者单位
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测量双折射单轴晶体波片厚度的方法和装置
专利
OAI收割
专利类型: 发明, 专利号: ZL200510030094.8, 申请日期: 2007-10-03, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
林礼煌
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冯伟伟
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欧阳斌
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浏览/下载:18/1
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提交时间:2011/07/14
精密旋转双棱镜光束扫描器及其控制方法
专利
OAI收割
专利类型: 发明, 专利号: ZL200310108487.7, 申请日期: 2006-05-17, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
云茂金
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祖继锋
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孙建锋
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阳庆国
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许楠
;
刘立人
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提交时间:2011/07/14