机构

• 自动化研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 会议论文 [1]

发表日期

• 2020 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 内容类型：会议论文    专题：自动化研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Using Scale Information to Improve SIFT-Based Electron Microscope Image Registration Method 会议论文  OAI收割 中国浙江省杭州市, 2019-9 作者:  Chen BH(陈波昊);  Chang S(常胜);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)   |  收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2022/06/14 SIFT  Image Registration  RANSAC  Electron Microscope