机构

• 微电子研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 外文期刊 [1]

发表日期

• 2008 [1]

学科主题

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2008    专题：微电子研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Study on the dose rate upset effect of partially depleted silicon-on-insulator static random access memory 外文期刊  OAI收割 2008 作者:  Zhao, FZ;  Liu, MX;  Guo, TL;  Liu, G;  Hai, CH   |  收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2010/11/26 Transient Radiation Upset  Cmos/sos Ram  Device  Environment