机构

• 半导体研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2009 [1]

学科主题

• 光电子学 [1]

筛选

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2009    学科主题：光电子学    内容类型：期刊论文     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Determination of the tilt and twist angles of curved GaN layers by high-resolution x-ray diffraction 期刊论文  OAI收割 semiconductor science and technology, 2009, 卷号: 24, 期号: 12, 页码: art.no.125007 Liu, JQ (Liu, J. Q.); Wang, JF (Wang, J. F.); Qiu, YX (Qiu, Y. X.); Guo, X (Guo, X.); Huang, K (Huang, K.); Zhang, YM (Zhang, Y. M.); Hu, XJ (Hu, X. J.); Xu, Y (Xu, Y.); Xu, K (Xu, K.); Huang, XH (Huang, X. H.); Yang, H (Yang, H.) 收藏  |  浏览/下载：244/114  |  提交时间：2010/03/08 THIN-FILMS