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  • 2009 [1]
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用于原子力显微镜的二维微动平台和微力学参数测试方法 专利  OAI收割
专利类型: 发明, 专利号: CN101339816, 申请日期: 2009-01-07, 公开日期: 2009-01-07
鲍海飞; 李昕欣; 张波; 郭久福
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