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Direct measurement and analysis of total ionizing dose effect on 130 nm PD SOI SRAM cell static noise margin 期刊论文  OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 期号: 9, 页码: 1-5
作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen);  Cui, JW (Cui, Jiangwei);  Liu, MX (Liu, Mengxin);  Su, DD (Su, Dandan);  Zhou, H (Zhou, Hang)
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