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  • 上海光学精密机械研究... [1]
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宽量程直接引拉法薄膜附着力测量装置 专利  OAI收割
专利类型: 实用新型, 专利号: ZL200620045502.7, 申请日期: 2007-10-10, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
邓震霞; 邵建达; 易葵; 范正修; 贺洪波; 肖连君; 何明华
收藏  |  浏览/下载:38/3  |  提交时间:2011/07/14