机构

• 西安光学精密机械研究... [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 专利 [1]

发表日期

• 2016 [1]

学科主题

筛选

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 基于双波面干涉条纹阵列大面积光学轮廓测量装置和方法 专利  OAI收割 专利号: CN105865369A, 申请日期: 2016-08-17, 公开日期: 2016-08-17 作者:  余学才;  肖景天;  任华西;  王晓庞   |  收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2020/01/18