机构

• 上海技术物理研究所 [4]

采集方式

• OAI收割 [4]

内容类型

• 专利 [2]
• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2016 [1]
• 2015 [1]
• 2014 [1]
• 2011 [1]

学科主题

筛选

浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 针对非均匀校正后的热红外图像剩余非均匀噪声去除方法 专利  OAI收割 专利号: 201610235714.X, 申请日期: 2016-04-15, 公开日期: 2019-04-02 作者:  姬弘桢;  王建宇;  李春来;  孙羽;  金健   |  收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/11/09 一种红外成像系统条纹噪声去除方法 专利  OAI收割 专利号: 201510029313.4, 申请日期: 2015-01-21, 公开日期: 2017-06-27 作者:  1姬弘桢 2王建宇 3李春来 4金健 5周潘伟   |  收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2017/12/12 制冷型热红外焦平面成像系统数据处理的关键技术 期刊论文  OAI收割 红外, 2014, 卷号: 35, 期号: 5, 页码: 7-12 王湘波; 陈小文; 李春来; 姬弘桢; 王建宇 收藏  |  浏览/下载：135/0  |  提交时间：2014/11/21 热红外焦平面 热红外成像系统 辐射定标 盲元检测 非均匀性校正  热红外成像系统  辐射定标  盲元检测  非均匀性校正   一种适用于在线检测的纳米薄膜厚度精确测量方法 期刊论文  OAI收割 红外, 2011, 卷号: 32, 期号: 7, 页码: 9-16 作者:  姬弘桢;  邹娟娟;  崔宝双   |  收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2011/08/19 薄膜  厚度  测量  精确