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西安光学精密机械研究... [1]
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用于荧光寿命分析的光源
专利
OAI收割
专利号: CN107851965A, 申请日期: 2018-03-27, 公开日期: 2018-03-27
作者:
乔纳森·M·罗斯伯格
;
杰森·W·希克勒
;
罗伦斯·C·威斯特
;
F·艾哈迈德
;
布兰登·黄
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提交时间：2019/12/30
