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Reliability of 4H-SiC Junction Barrier Schottky Diodes Under High Temperature Power Cycling Stress 会议论文  OAI收割
作者:  
Tang YD(汤益丹);  Liu XY(刘新宇);  Wang G(王刚);  Luo YF(罗亚非);  Bai Y(白云)
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单向器自动装配机机械结构设计探析 期刊论文  OAI收割
中国战略新兴产业, 2018, 期号: 44, 页码: 234
作者:  
葛航宇
  |  收藏  |  浏览/下载:9/0  |  提交时间:2019/09/17