机构

• 上海技术物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 专利 [1]

发表日期

• 2014 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 一种去除碲镉汞界面层的霍尔样品制备方法 专利  OAI收割 专利类型: 发明, 专利号: 201110355312.0, 申请日期: 2014-01-01, 公开日期: 2015-01-06 1仇光寅2 魏彦锋3陈倩男4孙权志5 孙瑞赟 收藏  |