机构

• 上海技术物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 专利 [1]

发表日期

• 2015 [1]

学科主题

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 一种同时获取薄膜厚度与折射率的标准干涉片拟合法 专利  OAI收割 专利号: 201510606559.3, 申请日期: 2015-09-22, 公开日期: 2017-10-13 作者:  1王少伟 2刘星星 3冀若楠 4陈飞良 5陆卫 6陈效双   |  收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2017/12/12