机构

• 上海技术物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 专利 [1]

发表日期

• 2011 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 一种高背景抑制型热红外高光谱试验装置 专利  OAI收割 专利号: 200810204563.7, 申请日期: 2011-01-01, 公开日期: 2011-12-15 作者:  1王建宇 2徐卫明3林颖 4袁立银 5董德平 6童鹏 7刘军   |  收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2011/12/15