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• 自动化研究所 [5]

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• OAI收割 [5]

内容类型

• 期刊论文 [4]
• 会议论文 [1]

发表日期

• 2024 [1]
• 2023 [1]
• 2022 [2]
• 2021 [1]

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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Learning Multi-Resolution Features for Unsupervised Anomaly Localization on Industrial Textured Surfaces 期刊论文  OAI收割 IEEE Transactions on Artificial Intelligence, 2024, 页码: 1-13 作者:  Tao X(陶显);  Shaohua Yan;  Xinyi Gong;  Chandranath Adak   |  收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2024/06/04 ViTALnet: Anomaly on Industrial Textured Surfaces With Hybrid Transformer 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2023, 页码: 1-13 作者:  Tao X(陶显);  Chandranath Adak;  Pang-Jo Chun;  Shaohua Yan;  Huaping Liu   |  收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2024/06/05 Unsupervised Anomaly Detection for Surface Defects with Dual-Siamese Network 期刊论文  OAI收割 IEEE Transactions on Industrial Informatics, 2022, 卷号: 1, 期号: 1, 页码: 1-11 作者:  Tao X(陶显);  Da-Peng Zhang;  Ma WZ(马文治);  Hou ZX(侯占新);  Lu ZF(逯正峰)   |  收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2022/03/03 缺陷检测   Deep Learning for Unsupervised Anomaly Localization in Industrial Images: A Survey 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2022, 卷号: 71, 页码: 21 作者:  Tao, Xian;  Gong, Xinyi;  Zhang, Xin;  Yan, Shaohua;  Adak, Chandranath   |  收藏  |  浏览/下载：66/0  |  提交时间：2022/09/19 Anomaly localization (AL)  deep learning  industrial inspection  literature survey  unsupervised learning   BigyaPAn: Deep Analysis of Old Paper Advertisement 会议论文  OAI收割 深圳, 2021-9 作者:  Chandranath Adak;  Tao X(陶显)   |  收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2024/06/05