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REBCO sample testing at high power X-band 会议论文  OAI收割
USA, 2024
作者:  A. Dhar;   E. Nanni;  G. Le Sage;  M. Schneider
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REBCO sample testing for a HTS high Q cavity 会议论文  OAI收割
Italy, 2023
作者:  M. Schneider;   A. Dhar;  G. Le Sage
  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2024/11/14