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	Surface Roughness and Correlated Enhanced Field Emission Investigations of Electropolished Niobium Samples 会议论文 OAI收割 Berlin, 2009 作者: S.Lagotzky; .Navitski; G.Mueller \| 收藏 \| 浏览/下载：8/0 \| 提交时间：2017/06/16
	Novel UHV Scanning Anode Field Emission Microscope (SAFEM) for Dark Current Investigations on Photocathodes 会议论文 OAI收割 Berlin, 2009 作者: A.Navitski; G.Mueller \| 收藏 \| 浏览/下载：13/0 \| 提交时间：2017/06/16
	Field emission from single crystal and large grain niobium cathodes 会议论文 OAI收割 China, 2007 作者: A.Dangwal; G.Mueller \| 收藏 \| 浏览/下载：106/0 \| 提交时间：2017/06/16