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Surface Roughness and Correlated Enhanced Field Emission Investigations of Electropolished Niobium Samples 会议论文  OAI收割
Berlin, 2009
作者:  S.Lagotzky;  .Navitski;  G.Mueller
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Novel UHV Scanning Anode Field Emission Microscope (SAFEM) for Dark Current Investigations on Photocathodes 会议论文  OAI收割
Berlin, 2009
作者:  A.Navitski;  G.Mueller
  |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2017/06/16
Field emission from single crystal and large grain niobium cathodes 会议论文  OAI收割
China, 2007
作者:  A.Dangwal;  G.Mueller
  |  收藏  |  浏览/下载：110/0  |  提交时间：2017/06/16