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The effect of an interfacial layer on the relaxation of CdMnTe/CdTe multiple quantum well structures on InSb substrates 期刊论文  OAI收割
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 1998, 卷号: 13, 期号: 7, 页码: 746
Li, CR; Tanner, BK; Ashenford, DE; Hogg, JHC; Lunn, B
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High resolution x-ray diffraction and scattering measurement of the interfacial structure of ZnTe/GaSb epilayers 期刊论文  OAI收割
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1997, 卷号: 82, 期号: 5, 页码: 2281
Li, CR; Tanner, BK; Ashenford, DE; Hogg, JHC; Lunn, B
收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2013/09/17