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近代物理研究所 [3]
采集方式
OAI收割 [3]
内容类型
会议论文 [2]
期刊论文 [1]
发表日期
2017 [3]
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共3条,第1-3条
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Influence of highly-charged Bi-209(33+) irradiation on structure and optoelectric characteristics of GaN epilayer
期刊论文
OAI收割
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 406, 页码: 571-577
作者:
Li, Jj.
;
Zhang, C. H.
;
Zhang, L. Q.
;
Song, Y.
;
Yan, T. X.
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提交时间:2018/05/08
GaN
Highly-charged bismuth ion irradiation
AFM
XPS
Raman scattering spectrum
PL
Influence of highly-charged Bi-209(33+) irradiation on structure and optoelectric characteristics of GaN epilayer
会议论文
OAI收割
作者:
Song, Y.
;
Zhang, L. Q.
;
Zhang, C. H.
;
Xu, C. L.
;
Li, Jj.
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提交时间:2018/08/20
GaN
Highly-charged bismuth ion irradiation
AFM
XPS
Raman scattering spectrum
PL
Influence of highly-charged Bi-209(33+) irradiation on structure and optoelectric characteristics of GaN epilayer
会议论文
OAI收割
作者:
Yang, Y. T.
;
Li, J. Y.
;
Liu, H. P.
;
Ding, Z. N.
;
Yan, T. X.
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提交时间:2018/08/20
GaN
Highly-charged bismuth ion irradiation
AFM
XPS
Raman scattering spectrum
PL