中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
合肥物质科学研究院 [4]
地球环境研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2018 [1]
2017 [1]
2013 [2]
2012 [1]
学科主题
纳米科技与材料物理:... [1]
筛选
浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
Plasmon-engineered anti-replacement synthesis of naked Cu nanoclusters with ultrahigh electrocatalytic activity
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY A, 2018, 卷号: 6, 期号: 38, 页码: 18687-18693
作者:
Pan, Shusheng
;
Zhang, Xian
;
Lu, Wei
;
Yu, Siu Fung
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:32/0
  |  
提交时间:2019/12/25
Lasing characteristics of single-crystalline CsPbCl3 perovskite microcavities under multiphoton excitation
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, 2017, 卷号: 50, 期号: 22, 页码: 6
作者:
Siu, Chun Kit
;
Zhao, Junqian
;
Wang, Yunfeng
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:37/0
  |  
提交时间:2019/06/17
inorganic perovskites
multiphoton absorption
amplified spontaneous emission
lasing
Crystallite size-modulated exciton emission in SnO2 nanocrystalline films grown by sputtering
期刊论文
OAI收割
journal of applied physics, 2013, 卷号: 113
Shu Sheng Pan
;
Siu Fung Yu
;
Yun Xia Zhang
;
Yuan Yuan Luo
;
Shuan Wang
;
Jun Min Xu
;
Guang Hai Li
收藏
  |  
浏览/下载:19/0
  |  
提交时间:2013/08/22
Self-Doped Rutile Titania with High Performance for Direct and Ultrafast Assay of H2O2
期刊论文
OAI收割
acs appl.mater.interfaces, 2013, 期号: 5, 页码: 12784-12788
作者:
Ming Li
;
Ming Li
;
Shusheng Pan
;
Wei Lu
;
Wei Tong
收藏
  |  
浏览/下载:19/0
  |  
提交时间:2014/11/11
Quantification of carbonate carbon in aerosol filter samples using a modified thermal/optical carbon analyzer (M-TOCA)
期刊论文
OAI收割
ANALYTICAL METHODS, 2012, 卷号: 4, 期号: 8, 页码: 2578-2584
作者:
Lee, SC (Lee, Shun Cheng)[4]
;
Ho, SSH (Ho, Steven Sai Hang)[1,2]
;
Ho, KF (Ho, Kin Fai)[1,3]
;
Liu, SX (Liu, Suixin)[1]
;
Liu, WD (Liu, Wandong)[4]
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:26/0
  |  
提交时间:2018/12/13
Size-differentiated Aerosols
Chemical Composition
Scanning Electron Microscopy