机构

• 近代物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2016 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Study on the bias-dependent effects of proton-induced damage in CdZnTe radiation detectors using ion beam induced charge microscopy 期刊论文  OAI收割 MICRON, 2016, 卷号: 88, 页码: 54-59 作者:  Xi, Shouzhi;  Guo, Na;  Jie, Wanqi;  Du, Guanghua;  Shen, Hao   |  收藏  |  浏览/下载：100/0  |  提交时间：2018/05/31 Proton  Radiation damage  Ion beam induced charge microscopy  CdZnTe  Bias dependent