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总剂量辐照前后CMOS器件阈电压变化的统计分析 期刊论文  OAI收割
核技术, 2006, 卷号: 29, 期号: 9, 页码: 665-669
作者:  
李爱武;  余学峰;  任迪远;  汪东;  匡治兵
收藏  |  浏览/下载:19/0  |  提交时间:2012/11/29