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HXMT电子学系统可靠性预计中冗余备份方式的研究 期刊论文  OAI收割
核电子学与探测技术, 2010, 卷号: 30, 期号: 8, 页码: 1008-1011
作者:  
刘聪展;  王金明;  季建峰;  张智
  |  收藏  |  浏览/下载:12/0  |  提交时间:2019/07/11