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	一种在空间等离子体环境中建立探测器参考电位的技术与实验系统设计学位论文 OAI收割 : 中国科学院国家空间科学中心, 2019 作者: 李晓明 \| 收藏 \| 浏览/下载：47/0 \| 提交时间：2019/12/13 空间等离子体探测器参考电位 FPGA
	高光谱遥感器现场光谱定标精度验证方法研究期刊论文 OAI收割应用光学, 2017, 卷号: 038 作者: 丁蕾; 袁银麟; 郑小兵; 张艳娜; 戚涛 \| 收藏 \| 浏览/下载：151/0 \| 提交时间：2020/10/26 标准传递探测器定标参考光源辐亮度验证
	短波红外InGaAs探测器的台面成型技术研究学位论文 OAI收割 : 中国科学院研究生院, 2009 作者: 宁锦华 \| 收藏 \| 浏览/下载：30/0 \| 提交时间：2012/08/22 由于ingaas 短波红外探测器具有可以室温工作探测率高等优点 Ingaas线列红外焦平面在国外已经成功用于空间遥感。本论文主要围绕台面结构的ingaas探测器制备的台面成型工艺展开研究重点研究了感应耦合等离子体刻蚀（icp）台面成型工艺。同时利用不同的台面成型方式制备ingaas探测器通过最终性能的比较评价得出较好的台面成型方式为ingaas红外焦平面的研制提供工艺参考。取得结果如下：icp刻蚀中掩膜的材料致密性侧壁粗糙度和垂直度等对刻蚀效果具有至关重要的影响。为了使刻蚀残留物挥发掉铟基材料的刻蚀需要对样品加热在此温度下光刻胶掩膜会碳化。对于ingaas材料来说采用pecvd生长sinx 选择边缘平整的光刻板用sf6 Rie刻蚀sinx后用hf：nh4f：h2o为3：6：10的溶液常温腐蚀6秒可以实现垂直光滑的刻蚀端面。ch4/cl2刻蚀铟基材料表面光洁无残留物但对于制备2µm左右台面深度的延伸波长ingaas探测器平均刻蚀速率过快同时钻蚀略大了些。ar气和n2能加速cl2的分离提高刻蚀速率相比较ar气 N2的物理轰击力小对材料造成的损伤小同时在刻蚀过程中n2能和材料中的si发生反应生成sinx 在材料表面产生钝化。用cl2/n2作为刻蚀气体对ingaas探测器进行台面成型能得到刻蚀速率稳定可控刻蚀后的表面光洁无残留物图形保真度好。在不同的直流偏压 Icp功率气体总流量和气体组分等参数下进行台面成型并从刻蚀速率刻蚀垂直度刻蚀表面粗糙度等几个方面对刻蚀质量做了评估和分析。在摸清铟基材料刻蚀规律的基础上找到了可用于常规波长和延伸波长ingaas探测器制备的icp刻蚀参数。icp刻蚀与湿法腐蚀台面成型的八元台面器件具有相同的性能。但是在器件性能相当的情况下 Icp具有图形保真度好刻蚀速率稳定可控的优点因而更适用于ingaas探测器的工程制作特别在小光敏元探测器的制备中 Icp的优势将更明显。
	紫外ICCD的线性测量期刊论文 OAI收割光电工程, 2008, 期号: 8 作者: 杨怀江; 隋永新; 闫丰收藏 \| 浏览/下载：29/0 \| 提交时间：2012/09/25 紫外ICCD 线性比较测量参考探测器不确定度
	应用全息透镜探测激光辐射方向期刊论文 OAI收割应用激光, 1989, 期号: 04, 页码: 153-155 邹振书收藏 \| 浏览/下载：17/0 \| 提交时间：2013/03/11 全息透镜:6859 探测激光:3522 辐射方向:3491 光电探测器:3252 多重像:1969 结构简单:1969 参考光束:1827 准直细光束:1664 像点:1453 探测视场:1334
	能量色散X射线光谱分析期刊论文 OAI收割分析试验室, 1987, 期号: 4, 页码: 39-43 作者: 刘亚文收藏 \| 浏览/下载：29/0 \| 提交时间：2015/12/25 X射线光谱分析能量色散射线管探测器系统脉冲高度分析器参考谱色散谱分析工作者线光谱元素分析