中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
机构
采集方式
内容类型
发表日期
学科主题
筛选

浏览/检索结果: 共19条,第1-10条 帮助

条数/页: 排序方式:
物理形变类长周期光纤光栅的制作及应用研究 学位论文  OAI收割
北京: 中国科学院大学, 2019
作者:  
孔旭东
  |  收藏  |  浏览/下载:26/0  |  提交时间:2019/05/23
深海噬菌体NrS-1 DNA聚合酶结构和功能研究 学位论文  OAI收割
: 中国科学院大学(中国科学院上海应用物理研究所), 2019
作者:  
郭豪杰
  |  收藏  |  浏览/下载:52/0  |  提交时间:2021/12/16
基于DMD的近红外光谱仪的研究 期刊论文  OAI收割
红外与激光工程, 2019, 卷号: 48, 期号: 06, 页码: 432-440
作者:  
王莹;  刘华;  李金环;  陆子凤;  许家林
  |  收藏  |  浏览/下载:37/0  |  提交时间:2020/08/24
基于高阶共振模式的金属表面等离子体增强型ZnO紫外探测器的制备和研究 学位论文  OAI收割
中国科学院大学(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所): 中国科学院大学(中国科学院长春光学精密机械与物理研究所), 2018
作者:  
王潇
  |  收藏  |  浏览/下载:31/0  |  提交时间:2019/09/23
MOEMS集成波长选择开关的设计及研究 期刊论文  OAI收割
微纳电子技术, 2017, 页码: 597-604+626
作者:  
时建;  梁静秋;  陈成;  吕金光;  秦余欣
  |  收藏  |  浏览/下载:25/0  |  提交时间:2018/04/09
基于亚波长相位调制结构材料的电控扫描天线研究 学位论文  OAI收割
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2015
作者:  
潘文波
收藏  |  浏览/下载:102/0  |  提交时间:2015/07/29
微纳光通信器件与系统 成果  OAI收割
吉林省技术发明奖: 三等奖, 2014
梁静秋; 王维彪; 梁中翥; 秦余欣; 田超; 崔乃迪; 吕金光; 陈松
收藏  |  浏览/下载:141/0  |  提交时间:2015/02/12
非均匀膨胀与收缩下反射体全息光栅衍射特性分析 期刊论文  OAI收割
中国激光, 2014, 期号: 2, 页码: 141-148
何天博; 巴音贺希格; 齐向东; 李文昊; 唐玉国
收藏  |  浏览/下载:27/0  |  提交时间:2015/04/17
多元散射校正和逐步回归法建立黑土有机碳近红外光谱定量模型 期刊论文  OAI收割
农业系统科学与综合研究, 2010, 卷号: 26, 期号: 2, 页码: 174-180
申艳; 张晓平; 梁爱珍; 时秀焕; 范如芹; 杨学明
收藏  |  浏览/下载:19/0  |  提交时间:2010/11/26
短波红外InGaAs探测器的台面成型技术研究 学位论文  OAI收割
: 中国科学院研究生院, 2009
作者:  
宁锦华
  |  收藏  |  浏览/下载:32/0  |  提交时间:2012/08/22
由于ingaas 短波红外探测器具有可以室温工作  探测率高等优点  Ingaas线列红外焦平面在国外已经成功用于空间遥感。本论文主要围绕台面结构的ingaas探测器制备的台面成型工艺展开研究  重点研究了感应耦合等离子体刻蚀(icp)台面成型工艺。同时利用不同的台面成型方式制备ingaas探测器  通过最终性能的比较  评价得出较好的台面成型方式  为ingaas红外焦平面的研制提供工艺参考。取得结果如下:icp刻蚀中掩膜的材料致密性  侧壁粗糙度和垂直度等对刻蚀效果具有至关重要的影响。为了使刻蚀残留物挥发掉  铟基材料的刻蚀需要对样品加热  在此温度下  光刻胶掩膜会碳化。对于ingaas材料来说  采用pecvd生长sinx  选择边缘平整的光刻板  用sf6 Rie刻蚀sinx后用hf:nh4f:h2o为3:6:10的溶液常温腐蚀6秒  可以实现垂直光滑的刻蚀端面。ch4/cl2刻蚀铟基材料表面光洁无残留物  但对于制备2µm左右台面深度的延伸波长ingaas探测器  平均刻蚀速率过快  同时钻蚀略大了些。ar气和n2能加速cl2的分离  提高刻蚀速率  相比较ar气  N2的物理轰击力小  对材料造成的损伤小  同时在刻蚀过程中n2能和材料中的si发生反应生成sinx  在材料表面产生钝化。用cl2/n2作为刻蚀气体对ingaas探测器进行台面成型  能得到刻蚀速率稳定可控  刻蚀后的表面光洁无残留物  图形保真度好。在不同的直流偏压  Icp功率  气体总流量和气体组分等参数下进行台面成型  并从刻蚀速率  刻蚀垂直度  刻蚀表面粗糙度等几个方面对刻蚀质量做了评估和分析。在摸清铟基材料刻蚀规律的基础上  找到了可用于常规波长和延伸波长ingaas探测器制备的icp刻蚀参数。icp刻蚀与湿法腐蚀台面成型的八元台面器件具有相同的性能。但是在器件性能相当的情况下  Icp具有图形保真度好  刻蚀速率稳定可控的优点  因而更适用于ingaas探测器的工程制作  特别在小光敏元探测器的制备中  Icp的优势将更明显。