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新型金属源/漏工程新进展 期刊论文  OAI收割
微电子学, 2008, 卷号: 38, 期号: 4, 页码: 6,524-529
作者:  
尚海平;  徐秋霞
  |  收藏  |  浏览/下载:19/0  |  提交时间:2010/05/27
源漏硅化物扩散层分离技术对SOINMOS抗ESD的影响 期刊论文  OAI收割
功能材料与器件学报, 2008, 卷号: 14, 期号: 6, 页码: 6,1007-1012
作者:  
韩郑生;  宋文斌;  许高博;  曾传滨
  |  收藏  |  浏览/下载:20/0  |  提交时间:2010/05/27