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一种检测荧光原位杂交质量控制的方法 专利  OAI收割
专利类型: 发明, 专利号: CN201110341817.1, 申请日期: 2012-05-02, 公开日期: 2012-05-02
作者:  
相建海;  郇聘
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X射线应力测定中的X射线照射区域变化 期刊论文  OAI收割
物理测试, 1997, 期号: 3, 页码: 4-8
徐寒冰,李家宝,王中光
收藏  |  浏览/下载:17/0  |  提交时间:2012/04/12