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机构
沈阳自动化研究所 [1]
软件研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2015 [1]
2002 [1]
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半导体封装测试生产线瓶颈检测的一种方法
期刊论文
OAI收割
电子器件, 2015, 卷号: 38, 期号: 1, 页码: 44-48
作者:
史海波
;
刘昶
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提交时间:2015/03/17
半导体封装测试
生产瓶颈
瓶颈检测
识别指标
虚拟装配中面贴合感知构造研究
期刊论文
OAI收割
计算机研究与发展, 2002, 卷号: 39, 期号: 10, 页码: 1331-1336
程成
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提交时间:2011/07/29
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