机构

• 金属研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 成果 [1]

发表日期

• 1999 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 薄膜试样厚度的电子探针测定方法 成果  OAI收割 1999 郭延风; 尚玉华; 徐乐英; 刘志东 收藏  |  浏览/下载：123/0  |  提交时间：2013/07/24 厚度  金属薄膜  电子探针分析器