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JFET输入运算放大器的增强辐射损伤方法研究 期刊论文  OAI收割
核技术, 2006, 卷号: 29, 期号: 8, 页码: 627-630
作者:  
高嵩;  陆妩;  任迪远;  牛振红;  刘刚
收藏  |  浏览/下载:21/0  |  提交时间:2012/11/29