机构

• 苏州纳米技术与纳米仿... [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2016 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Catastrophic Degradation of InGaN/GaN Blue Laser Diodes 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 2016, 卷号: 16, 期号: 4, 页码: 638-641 作者:  Wen, Pengyan(温鹏雁);  Zhang, Shuming(张书明);  Liu, Jianping(刘建平);  Li, Deyao(李德尧);  Zhang, Liqun(张立群) 收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2017/03/11 Catastrophic degradation  InGaN/GaN laser diodes (LDs)  transmission electron microscopy (TEM)