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内容类型

• 期刊论文 [6]
• 会议论文 [1]

发表日期

• 2022 [1]
• 2018 [1]
• 2017 [1]
• 2014 [2]
• 2003 [1]
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学科主题

• Physics [1]

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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Influence of numerical discretizations on hitting probabilities for linear stochastic parabolic systems 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF COMPLEXITY, 2022, 卷号: 70, 页码: 29 作者:  Chen, Chuchu;  Hong, Jialin;  Sheng, Derui   |  收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2022/04/29 Hitting probability  Numerical discretization  Stochastic parabolic system  Critical dimension   Use of model-based library in critical dimension measurement by CD-SEM 期刊论文  OAI收割 MEASUREMENT, 2018, 卷号: 123, 期号: 无, 页码: 150-162 作者:  Zou, Y. B.;  Khan, M. S. S.;  Li, H. M.;  Li, Y. G.;  Li, W.   |  收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2019/08/26 Model-based library  Critical dimension  Secondary electron  CD-SEM  Monte Carlo simulation   Plasticity performance of Al0.5CoCrCuFeNi high-entropy alloys under nanoindentation 会议论文  OAI收割 Qingdao, PEOPLES R CHINA, OCT 20-24, 2016 作者:  Yu LP;  Chen SY;  Ren JL;  Ren Y;  Yang FQ 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2018/01/16 Time-series  Cryogenic Temperatures  Multicomponent Alloys  Serration Behavior  Strange Attractors  Metallic Glasses  Fatigue Behavior  Flow  High-entropy Alloys  Nanoindentation Critical Behavior  Chaotic Behaviordeformation  Dimension   Fast model for mask spectrum simulation and analysis of mask shadowing effects in extreme ultraviolet lithography 期刊论文  OAI收割 j. micro-nanolithogr. mems moems, 2014, 卷号: 13, 期号: 3, 页码: 33007 作者:  Liu, Xiaolei;  Wang, Xiangzhao;  Li, Sikun;  Yan, Guanyong;  Erdmann, Andreas 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2016/11/28 extreme ultraviolet lithography  mask model  shadowing effect  pattern shift  critical dimension bias   Fast model for mask spectrum simulation and analysis of mask shadowing effects in extreme ultraviolet lithography 期刊论文  OAI收割 j. micro-nanolithogr. mems moems, 2014, 卷号: 13, 期号: 3, 页码: 33007 作者:  Liu, Xiaolei;  Wang, Xiangzhao;  Li, Sikun;  Yan, Guanyong;  Erdmann, Andreas 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2016/11/28 extreme ultraviolet lithography  mask model  shadowing effect  pattern shift  critical dimension bias   Scaling and nonscaling finite-size effects in the Gaussian and the mean spherical model with free boundary conditions 期刊论文  OAI收割 PHYSICAL REVIEW E, 2003, 卷号: 67, 期号: 5, 页码: - 作者:  Chen, XS;  Dohm, V;  Chen, XS , Chinese Acad Sci, Inst Theoret Phys, POB 2735, Beijing 100080, Peoples R China.   |  收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/08/29 Upper Critical Dimension  T-lambda  Confined He-4  Free-energy  Superfluid Transition  Critical-behavior  Phi(4) Theory  3 Dimensions  Heat  Systems   Integrable XYZ Hamiltonian with next-nearest-neighbor interaction 期刊论文  OAI收割 INTERNATIONAL JOURNAL OF MODERN PHYSICS B, 1999, 卷号: 13, 期号: 7, 页码: 847 Lai, YZ; Hu, ZN; Liang, JQ; Pu, FC 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2013/09/18 T-J MODEL  HEISENBERG CHAIN  CRITICAL-BEHAVIOR  ONE DIMENSION  IMPURITIES  SYSTEMS