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数学与系统科学研究院 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2018 [1]
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An Improved Domain Decomposition Method for Drop Impact Reliability Analysis of 3-D ICs
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS PACKAGING AND MANUFACTURING TECHNOLOGY, 2018, 卷号: 8, 期号: 10, 页码: 1788-1799
作者:
Zhou, Hao
;
Zhu, Hengliang
;
Cui, Tao
;
Pan, David Z.
;
Zhou, Dian
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提交时间:2018/11/16
Domain decomposition (DD)
drop test
reliability
through-silicon via (TSV)