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Annealing-induced evolution in interface stability and electrical performance of sputtering-driven rare-earth-based gate oxides 期刊论文  OAI收割
JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, 2019, 卷号: 778, 期号: 无, 页码: 579-587
作者:  
Wang, Die;  He, Gang;  Liang, Shuang;  Liu, Mao
  |  收藏  |  浏览/下载:71/0  |  提交时间:2020/03/31