机构

• 物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 1997 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 High resolution x-ray diffraction and scattering measurement of the interfacial structure of ZnTe/GaSb epilayers 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1997, 卷号: 82, 期号: 5, 页码: 2281 Li, CR; Tanner, BK; Ashenford, DE; Hogg, JHC; Lunn, B 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2013/09/17 EPITAXIAL MULTILAYERS  RAMAN-SPECTROSCOPY  HETEROSTRUCTURES  DEFECTS  SURFACE  DISLOCATIONS  RELAXATION  GROWTH  GA2TE3  SCALE