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Electronic properties of defects induced by hydrogen and helium radiation on Weyl semimetal niobium arsenic 期刊论文  OAI收割
COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE, 2019, 卷号: 160, 页码: 9-15
作者:  
Zhang, Zhao-Jun;  Fu, Yan-Long;  Cheng, Wei;  Zhang, Feng-Shou
  |  收藏  |  浏览/下载:36/0  |  提交时间:2019/04/02