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苏州纳米技术与纳米仿... [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2015 [1]
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Reconstruction of thermal boundary resistance and intrinsic thermal conductivity of SiO2-GaN-sapphire structure and temperature dependence
期刊论文
OAI收割
INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMAL SCIENCES, 2015, 卷号: 87, 期号: 0, 页码: 178-186
作者:
Xu, K (徐科)
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提交时间:2015/01/16
Thermal boundary resistance
3 omega method
Near-interface effect
Phonon inelastic scattering
Thermal impedance