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Expected affine: A registration method for damaged section in serial sections electron microscopy 期刊论文  OAI收割
FRONTIERS IN NEUROINFORMATICS, 2022, 卷号: 16, 页码: 11
作者:  Xin, Tong;  Shen, Lijun;  Li, Linlin;  Chen, Xi;  Han, Hua
  |  收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2022/11/14