机构

• 长春光学精密机械与物... [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 会议论文 [1]

发表日期

• 2010 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Mechanism of STED microscopy and analysis of the factors affecting resolution (EI CONFERENCE) 会议论文  OAI收割 6th International Symposium on Precision Engineering Measurements and Instrumentation, August 8, 2010 - August 11, 2010, Hangzhou, China Yang P.; Ai H. 收藏  |