中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
上海光学精密机械研究... [2]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2009 [1]
2008 [1]
学科主题
光学薄膜 [2]
筛选
浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
Optical properties and microstructure of Ta2O5 biaxial film
期刊论文
OAI收割
appl. optics, 2009, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 127, 133
齐红基
;
Xiao Xiudi
;
贺洪波
;
Yi Kui
;
范正修
收藏
  |  
浏览/下载:726/202
  |  
提交时间:2009/09/22
SCULPTURED THIN-FILMS
PRINCIPAL REFRACTIVE-INDEXES
SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY
CONSTANT DETERMINATION
OBLIQUE DEPOSITION
TANTALUM OXIDE
PRISM COUPLER
MATRIX
ANGLE
PARAMETERS
SiO2保护层和退火对Ta2O5薄膜激光损伤阈值影响的对比研究
期刊论文
OAI收割
Chin. Opt. Lett., 2008, 卷号: 6, 期号: 3, 页码: 228, 230
许程
;
董宏成
;
麻健勇
;
晋元霞
;
邵建达
;
范正修
收藏
  |  
浏览/下载:1640/222
  |  
提交时间:2009/09/22
Ta2O5薄膜
SiO2保护层
激光损伤阈值
退火
Electric field intensity (EFI)
Electron beam evaporation
Laser induced damage threshold (LIDT)
Microdefect density
Tantalum oxide films