机构

• 高能物理研究所 [4]

采集方式

• OAI收割 [3]
• iSwitch采集 [1]

内容类型

• 期刊论文 [4]

发表日期

• 2006 [1]
• 2005 [1]
• 2002 [2]

学科主题

• Physics [3]

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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Sharper image of breast cancer cells and stroma in dense breast using thinner angular filter under x-ray dark-field imaging 期刊论文  OAI收割 JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS, 2006, 卷号: 45, 期号: 24-28, 页码: L740-L743 作者:  Ando, M;  Sugiyama, H;  Ichihara, S;  Endo, T;  Bando, H 收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2016/06/29 breast cancer  invasive micropapillary carcinoma  pathology  cell  stroma  monochromator-collimator  synchrotron radiation  vertical wiggler  x-ray dark-field imaging  retraction   Attempt at visualizing breast cancer with X-ray dark field imaging 期刊论文  OAI收割 JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS, 2005, 卷号: 44, 期号: 16-19, 页码: L528-L531 作者:  Ando, M;  Yamasaki, K;  Toyofuku, F;  Sugiyama, H;  Ohbayashi, C 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2016/06/29 synchrotron radiation  vertical wiggler  X-ray dark-field imaging  monochro-collimator  Laue diffraction filter  refraction  breast cancer phantom  pathological breast cancer specimen   X-ray optics 'owl' and 'trinity' 期刊论文  iSwitch采集 Japanese journal of applied physics part 1-regular papers short notes & review papers, 2002, 卷号: 41, 期号: 7a, 页码: 4742-4749 作者:  Ando, M;  Hyodo, K;  Sugiyama, H;  Maksimenko, A;  Pattanasiriwisawa, W 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2019/04/23 X-ray dark-field imaging  Asymmetric reflection monochromator  Analyzer  Refraction contrast  X-ray bright-field imaging  Vertical wiggler  Synchrotron x-radiation  Fz grown silicon  Crystal diffraction index  Crystal thickness   X-ray optics 'Owl' and 'Trinity' 期刊论文  OAI收割 JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS, 2002, 卷号: 41, 期号: 7A, 页码: 4742-4749 作者:  Ando, M;  Hyodo, K;  Sugiyama, H;  Maksimenko, A;  Pattanasiriwisawa, W 收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2016/06/29 X-ray dark-field imaging  asymmetric reflection monochromator  analyzer  refraction contrast  X-ray bright-field imaging  vertical wiggler  synchrotron X-radiation  Fz grown silicon  crystal diffraction index  crystal thickness