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Determination of refractive index and thickness of YbF3 thin films deposited at different bias voltages of APS ion source from spectrophotometric methods 期刊论文  OAI收割
ADVANCED OPTICAL TECHNOLOGIES, 2018, 卷号: 7, 期号: 1-2, 页码: 33-37
作者:  
Zhang, Yinhua;  Xiong, Shengming;  Huang, Wei;  Zhang, Kepeng
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Determination of infrared refractive index of ZnS and YbF3 thin films by spectroscopy 期刊论文  OAI收割
OPTIK, 2018, 卷号: 170, 页码: 321-327
作者:  
Zhang, Yinhua;  Zhang, Kepeng;  Huang, Wei;  Xiong, Shengming
  |  收藏  |  浏览/下载:21/0  |  提交时间:2019/08/23