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上海光学精密机械研究... [2]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2014 [2]
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共2条,第1-2条
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Fast model for mask spectrum simulation and analysis of mask shadowing effects in extreme ultraviolet lithography
期刊论文
OAI收割
j. micro-nanolithogr. mems moems, 2014, 卷号: 13, 期号: 3, 页码: 33007
作者:
Liu, Xiaolei
;
Wang, Xiangzhao
;
Li, Sikun
;
Yan, Guanyong
;
Erdmann, Andreas
收藏
  |  
浏览/下载:26/0
  |  
提交时间:2016/11/28
extreme ultraviolet lithography
mask model
shadowing effect
pattern shift
critical dimension bias
Fast model for mask spectrum simulation and analysis of mask shadowing effects in extreme ultraviolet lithography
期刊论文
OAI收割
j. micro-nanolithogr. mems moems, 2014, 卷号: 13, 期号: 3, 页码: 33007
作者:
Liu, Xiaolei
;
Wang, Xiangzhao
;
Li, Sikun
;
Yan, Guanyong
;
Erdmann, Andreas
收藏
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提交时间:2016/11/28
extreme ultraviolet lithography
mask model
shadowing effect
pattern shift
critical dimension bias