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Fast thickness measurement of thin films using two-dimensional Fourier transform-based structured illumination microscopy 会议论文  OAI收割
Chengdu, PEOPLES R CHINAChengdu, PEOPLES R CHINA, JUN 26-29, 2018JUN 26-29, 2018
作者:  Xie, Zhongye;  Tang, Yan;  Liu, Xi;  Yang, Kejun;  Hu, Song
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Freeform lens collimating spectrum-folded Hadamard transform near-infrared spectrometer 期刊论文  OAI收割
Optics Communications, 2016, 卷号: 380, 页码: 161-167
作者:  Wang XD(王晓朵);  Liu H(刘华);  Juschkin, Larissa;  Li YP(李云鹏);  Xu JL(许家林)
收藏  |  浏览/下载：55/0  |  提交时间：2016/07/22