中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
上海光学精密机械研究... [4]
西安光学精密机械研究... [1]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
期刊论文 [4]
会议论文 [1]
发表日期
2005 [5]
学科主题
筛选
浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
LiNbO3:Cu:Ce非挥发全息记录掺杂组份比的优化
期刊论文
OAI收割
中国激光, 2005, 卷号: 32, 期号: 2, 页码: 248, 251
董前民
;
刘立人
;
刘德安
;
戴翠霞
;
任立勇
收藏
  |  
浏览/下载:2082/255
  |  
提交时间:2009/09/18
全息
体全息存储
非挥发性
双掺杂LiNbO3:Cu:Ce
holography
volume holographic storage
nonvolatile
doubly doped LiNbO3∶Cu∶Ce
Effect of microcosmic optical parameters of dopants on the signal-to-noise ratio in doubly doped LiNbO3 crystals
期刊论文
OAI收割
optik, 2005, 卷号: 116, 期号: 9, 页码: 423, 428
戴翠霞
;
刘立人
;
刘德安
;
周煜
收藏
  |  
浏览/下载:1365/207
  |  
提交时间:2009/09/18
doubly doped LiNbO3 crystals
nonvolatile holographic recording
scattering noise
signal-to-noise ratio
采用紫外光提高双掺杂铌酸锂晶体中全息记录的灵敏度和光栅强度
期刊论文
OAI收割
光学学报, 2005, 卷号: 25, 期号: 12, 页码: 1600, 1605
戴翠霞
;
刘立人
;
刘德安
;
柴志方
;
周煜
收藏
  |  
浏览/下载:2131/239
  |  
提交时间:2009/09/18
全息
holography
非挥发全息记录
nonvolatile holographic recording
紫外光记录
UV light recording
双掺杂铌酸锂晶体
doubly doped LiNbO3 crystals
灵敏度
sensitivity
Optimizations for the uniformity of the non-volatile volume grating in doubly doped LiNbO3 crystals
期刊论文
OAI收割
opt. commun., 2005, 卷号: 248, 期号: 1-3, 页码: 27, 33
戴翠霞
;
刘立人
;
刘德安
;
柴志方
;
Zhu LA
收藏
  |  
浏览/下载:1798/317
  |  
提交时间:2009/09/18
non-linear optics
optical materials
holography
non-volatile volume grating
non-unformity
doubly doped LiNbO3 crystals
average refractive-index change
Real-time non-destructive testing of dynamic holograms in doubly-doped LiNbO3 crystals using phase-conjugate technique
会议论文
OAI收割
seventh international symposium on optical storage, 湛江, 2005-04-01-2005-04-06
作者:
Baoli Yao
;
Ren LY(任立勇)
;
Ming Lei
收藏
  |  
浏览/下载:58/0
  |  
提交时间:2010/01/15
Photorefractive dynamic holograms
doubly-doped LiNbO3
phase conjugate wave
non-destructive testing
real-time testing