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Simulation and sesign of single event effect radiation hardening for SiGe heterojunction bipolar transistor 期刊论文  OAI收割
ACTA PHYSICA SINICA, 2015, 卷号: 64, 期号: 11
作者:  Li, P (Li Pei);  Guo, HX (Guo Hong-Xia);  Guo, Q (Guo Qi);  Wen, L (Wen Lin);  Cui, JW (Cui Jiang-Wei)
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