机构

• 近代物理研究所 [2]
• 化学研究所 [1]
• 高能物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [4]

内容类型

• 期刊论文 [4]

发表日期

• 2016 [1]
• 1999 [3]

学科主题

• Physics [1]

筛选

浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Study on the bias-dependent effects of proton-induced damage in CdZnTe radiation detectors using ion beam induced charge microscopy 期刊论文  OAI收割 MICRON, 2016, 卷号: 88, 页码: 54-59 作者:  Xi, Shouzhi;  Guo, Na;  Jie, Wanqi;  Du, Guanghua;  Shen, Hao   |  收藏  |  浏览/下载：111/0  |  提交时间：2018/05/31 Proton  Radiation damage  Ion beam induced charge microscopy  CdZnTe  Bias dependent   Observation of the damage on HOPG surface induced by Ar+8 ions 期刊论文  OAI收割 HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS-CHINESE EDITION, 1999, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 579-583 作者:  Zhai, PJ;  Feng, SL;  Zhang, Y;  Tang, XW;  Liu, J   |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2011/08/26 ion induced radiation damage  HOPG  STM and nanoscope   Observation of the damage on HOPG surface induced by Ar+8 ions 期刊论文  OAI收割 HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS-CHINESE EDITION, 1999, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 579-583 作者:  Zhai, PJ;  Feng, SL;  Zhang, Y;  Tang, XW;  Liu, J   |  收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2019/04/09 Ion Induced radiatIon Damage  Hopg  Stm And Nanoscope   Observation of the damage on HOPG surface induced by Ar+8 ions 期刊论文  OAI收割 HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS-CHINESE EDITION, 1999, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 579-583 作者:  Zhai PJ(翟鹏济);  Feng SL(冯松林);  Zhang Y(张颖);  Tang XW(唐孝威);  Zhai, PJ 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2016/06/28 ion induced radiation damage  HOPG  STM and nanoscope